Лаборатория по електронна микроскопия и микроанализ
Анализ на морфологията и състава на твърдотелни и прахообразни проби чрез сканираща електронна микроскопия (SEM) и енергийно-дисперсивен елементен анализ (EDS). Използва се електронен микроскоп от последно поколение JEOL IT800SHL с ултра висока резолюция, позволяващ изображения във вторични и обратно отразени електрони, елементно картографиране, линейно разпределение и наслагване на спектри. Оборудвана е и с система за прецизна пробоподготовка чрез йонно рязане с аргонови йони.
Описание на услугата
В Лабораторията се извършва анализ на морфологията на повърхността на твърдотелни проби (включително прахообразни) чрез сканираща електронна микроскопия (SEM) и енергийно – дисперсивен елементен анализ (EDS).
Апаратура
Сканиращ електронен микроскоп JEOL IT800SHL
Енергийно-дисперсивен детектор за елементен анализ
Система за пробоподготовка (йонно рязане и полиране)
Последно поколение електронен микроскоп с ултра висока разделителна способност, два in-lens детектора и два in-camera детектора:
– морфология на повърхност – изображения във вторични електрони
– разпределение на плътността – изображения в обратно отразени електрони
– елементен анализ – всички елементи от въглерод нагоре
– разпределение на елементи по линия
– картографиране по елементи – разпределение на площ
– миксиране на изображения, наслагване на спектри
– енергийно-дисперсивен елементен анализ
– пробоподготовка на образци, чрез прецизно отненаме на матриал с аргонови йони.
