Лаборатория по нови детектори и създаване на системи за интелигентно управление на процеси
Лабораторията по нови детектори и системи за интелигентно управление на процеси извършва изследвания на полупроводникови наноструктури и материали за оптоелектроника, фотоволтаици и лазерни технологии. Разполага с атомно-силов микроскоп за наноизмервания и спектрална апаратура за анализ на фотоелектрични свойства.
Описание на дейностите
Изследване на полупроводникови обемни материали и наноструктури (квантови ями, свръхрешетки, квантови жички, квантови точки) за оптоелектронни и фотоволтаични приложения, а именно:
Описание на услугите
Сканиране с атомно-силов микроскоп
Подробно описание на услугата: Изследването се осъществява чрез съвременен атомно-силов микроскоп MFP-3D-OriginAFM, Oxford Instruments Asylum research, с помощта на който е възможно Сканиране на проводимост (ORCA), на повърхностен потенциал (KPFM) и тунелна микроскопия (STM) в contact, repulsive aц/tapping и attractive ac mode. Възможност за нанолитография.
| Предлагани услуги | Цена в евро * |
| Сканиране с атомно-силов микроскоп в контактен режим(contact mode) | 54 |
| Сканиране с атомно-силов микроскоп в полуконтактен режим(repulsive ac mode = tapping mode) | 54 |
| Сканиране с атомно-силов микроскоп в безконтактен режим(attractive ac mode ) | 54 |
| Сканиране на магнитни сили | 77 |
| Сканиране на повърхностен потенциал (KPFM) | 77 |
Спектрални измервания на фотоелектрични величини.
Спектрални измервания на повърхностно фотонапрежение и фотопроводимост в диапазона от 200 до 2000 nm (с източници на светлина Hg-лампа и халогенна лампа), както и техни времеви зависимости. Има възможност и за измерване на дифузионната дължина на неосновните токови носители в полупроводниковия образец.
| |||||||||
| * Посочените цени са ориентировъчни и зависят от обхвата на научните изследвания. Включват ДДС в размер на 20%. |
Апаратура
Атомно-силовият микроскоп MFP-3D-OriginAFM, Oxford Instruments Asylum research е водещият член на семейството MFP-3D AFM. Той разполага с най-широката гама от режими за изображения с висока разделителна способност и аксесоари за характеризиране, с гъвкавост, мощни възможности и системна архитектура, която позволява бъдещо разширяване. Използва се за изследване на широк спектър от модерни материали – тънки филми и покрития за сензори, детектори, фотоволтаика, информационни носители и др. Размерите на тези филми и структурите, изградени от тях (дебелина, релеф, размери на зърната и домените и т.н.) поставят важно условие за характеризирането им при разделителни способности под нанометри до микрометри.
Използването на атомно-силовия микроскоп предоставя информация, която е критична при разработването, оптимизирането на тънки филми и наблюдението на процесите на техния растеж, както и при рационализирането на дизайнерските пътища за постигане на желаните функционални свойства на прибори за мехатрониката.
Сфери на приложение:
- опто- и наноелектроника;
- топография;
- проводимост;
- контактна потенциална разлика;
- магнитни свойства;
- електростатични сили;
- пиезоелектрични свойства.
Контакти
Ръководители:
проф. Веселин Дончев, vtd@phys.uni-sofia.bg
проф. Евгения Вълчева, epv@phys.uni-sofia.bg