Лаборатория по нови детектори и създаване на системи за интелигентно управление на процеси
Проект BG05M2OP001-1.001-0008 | Национален център по мехатроника и чисти технологии
Ръководители:
проф. д-р Евгения Вълчева (СУ Св. Климент Охридски, ФзФ)
e-mail: epv@phys.uni-sofia.bg
тел. 02 8161 843
доц. д-р Веселин Дончев (СУ Св. Климент Охридски, ФзФ)
e-mail: vtd@phys.uni-sofia.bg
тел. 02 8161 701
В Лабораторията се изследват полупроводникови наноструктури и обемни материали за оптоелектронни и фотоволтаични приложения. Изследват се посрдством спектроскопски методи полупроводникови наноструктури (квантови ями, свръхрешетки, квантови жички, квантови точки) за оптоелектронни приложения, а именно LED излъчватели на светлина, инфра-червени детектори, оптични памети, фотоволтаични елементи, високо ефективни полупроводникови лазери и други компоненти на опто- и наноелектрониката, основани на квантови ефекти. Изследваните обекти и системи са компоненти на съвременните мехатронни устройста.
ДЕЙНОСТИ
Микроскопът се използва за изследване на широк спектър от модерни материали – тънки филми и покрития за сензори, детектори, фотоволтаика, информационни носители и др. Размерите на тези филми и структурите, изградени от тях (дебелина, релеф, размери на зърната и домените и т.н.) поставят важно условие за характеризирането им при разделителни способности под нанометри до микрометри, което става възможно с инсталираният AFM.
Използването на AFM 3D Origin предоставя информация, която е критична при разработването, оптимизирането на тънки филми и наблюдението на процесите на техния растеж, както и при рационализирането на дизайнерските пътища за постигане на желаните функционални свойства на прибори за мехатрониката.
УСЛУГИ
- Изследване на широк спектър от модерни материали - тънки филми и покрития за сензори, детектори, фотоволтаика, информационни носители и др.
- Изследване на оптичните свойства на фотоволтаични структури
- Изследване на графен и графеноподобни въглеродни материали с атомно-силова микроскопия
- Изследване на проводимостни свойства
- Топография на микрообекти
оборудване
Атомно-силовият микроскоп (AFM) MFP-3D Origin е водещият член на семейството MFP-3D AFM. Той разполага с най-широката гама от режими за изображения и аксесоари за характеризиране, с гъвкавост, мощни възможности и системна архитектура, която позволява бъдещо разширяване. Включени са следните режими на работа: AFM contact mode, tapping mode, Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Conductive AFM, Nanolithography, Nanomanipulation, Scanning Tunneling Microscopy (STM).
